| dc.date.accessioned | 2016-03-17T14:23:14Z | |
| dc.date.available | 2016-03-17T14:23:14Z | |
| dc.date.issued | 2016-03-17 | |
| dc.identifier.uri | urn:nbn:de:hebis:34-2016031750031 | |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/123456789/2016031750031 | |
| dc.description.sponsorship | European commission (project NanoCMM, grant no. FP6-026717-2) Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) project LE 992/6-1 | ger |
| dc.language.iso | ger | |
| dc.rights | Urheberrechtlich geschützt | |
| dc.rights.uri | https://rightsstatements.org/page/InC/1.0/ | |
| dc.subject | Weißlichtinterferometrie | ger |
| dc.subject | Konfokalmikroskopie | ger |
| dc.subject | Auflösung | ger |
| dc.subject | DMD | ger |
| dc.subject | Batwing Effekt | ger |
| dc.subject | Linnik Interferometer | ger |
| dc.subject | konfokale Beleuchtung | ger |
| dc.subject | 3D Auflösung | ger |
| dc.subject.ddc | 620 | |
| dc.title | Experimentelle Untersuchung des Optimierungspotenzials in der kurzkohärenten Interferenzmikroskopie | ger |
| dc.type | Dissertation | |
| dcterms.abstract | Die vorliegende Arbeit befasst sich mit dem lateralen Auflösungsvermögen in der kurzkohärenten Interferenzmikroskopie. Das 3D-Auflösungsvermögen von Phasenobjekten ist im Gegensatz zu dem von Intensitätsobjekten stark nichtlinear und vom spezifischen Messverfahren abhängig. In diesem Zusammenhang sind systematische Messfehler von entscheidender Bedeutung. Für die kurzkohärente Interferenzmikroskopie ist das Überschwingen an Kanten von besonderem Belang, da sich der Effekt bei der Messung vieler technischer Oberflächen negativ auswirkt. Er entsteht durch die Überlagerung von Interferenzsignalen lateral benachbarter Objektpunkte von unterschiedlichen Höhenniveaus. Es wird an speziell für diesen Zweck entwickelten Messsystemen untersucht in wie weit dieser Effekt physikalisch reduziert werden kann und wie sich dies auf die laterale Auflösung auswirkt. An einem für den Einsatz in einer Nanomessmaschine optimierten Linnik-Interferometer wird die Justage eines solchen Systems erläutert. Der Sensor verfügt über die Option mit NUV-Licht betrieben zu werden, um die laterale Auflösung zu verbessern. Aufgrund des Einsatzzweckes ist der Arbeitsabstand relativ groß, was die laterale Auflösung einschränkt. Mit einem zweiten auf die Untersuchungen in dieser Arbeit optimierten Versuchsaufbau können die physikalischen Grenzen der kurzkohärenten Interferenzmikroskopie praktisch untersucht werden. Zu diesem Zweck ist der Aufbau mit einem Mikrospiegelarray ausgestattet, um hierüber variable konfokale Blenden zu schaffen. Mit diesem System wird erstmalig konfokale Mikroskopie mit Weißlichtinterferometrie kombiniert. Durch die optische Selektion der konfokalen Mikroskopie soll die Ursache für die Überschwinger an Kanten reduziert werden. Eine weitere Möglichkeit der Einflussnahme stellt die optionale Beleuchtung mit polarisiertem Licht dar, wodurch die laterale Auflösung weiter gesteigert werden kann. Zusätzlich kann auch dieser Aufbau mit kurzwelligem blauem Licht betrieben werden, um die laterale Auflösung zu optimieren. Die Messergebnisse, die mit diesen Versuchsaufbauten gemacht wurden, zeigen, dass im Gegensatz zu den in der derzeitigen Normung genutzten Modellen das Übertragungsverhalten in der Weißlichtinterferometrie bei der Messung von Phasenobjekten stark nichtlinear ist. Das laterale Auflösungsvermögen deckt sich je nach Auswerteverfahren recht gut mit dem von klassischen Mikroskopen bei der Wiedergabe von Intensitätsobjekten. Für die Untersuchungen wurde überwiegend ein Auflösungsnormal mit neun unterschiedlichen eindimensionalen Rechteckstrukturen verwendet, die eine Nominalhöhe im kritischen Bereich kleiner der Kohärenzlänge der verwendeten Lichtquelle aufweisen. Die Ergebnisse bestätigen sich aber auch an technischen Messobjekten aus der Praxis wie beispielsweise einer „digital video disc“. | ger |
| dcterms.accessRights | open access | |
| dcterms.creator | Niehues, Jan Günter | |
| dc.contributor.corporatename | Kassel, Universität Kassel, Fachbereich Elektrotechnik/Informatik | |
| dc.contributor.referee | Lehmann, Peter | |
| dc.contributor.referee | Seewig, Jörg | |
| dc.subject.swd | Weißes Licht | ger |
| dc.subject.swd | Interferometrie | ger |
| dc.subject.swd | Konfokale Mikroskopie | ger |
| dc.subject.swd | Auflösungsvermögen | ger |
| dc.date.examination | 2015-01-16 | |
