Date
2007-11-28Metadata
Show full item record
Dissertation
Analyse von Linienbreiten in Photoemissionsspektren zur Bestimmung von d-Lochlebensdauern in Kupfer und Silber
Abstract
Hochaufgelöste Photoelektronspektroskopie ermöglicht die Untersuchung der Zerfallsdynamik angeregter Lochzustände im Festkörper. Durch Messung der intrinsischen Linienbreiten in den Spektren von Kupfer- und Silbereinkristallen werden die Lebensdauern von tiefliegenden d-Lochzuständen in diesen Edelmetallen bestimmt und mit Vielteilchenrechnungen verglichen. Insbesondere kann gezeigt werden (1) daß sich die d-Lochlebensdauern in Kupfer und Silber trotz unterschiedlicher Lage der d-Bänder ähnlich verhalten (2) daß keine quadratische Abhängigkeit gemäß des einfachen Modell eines freien Elektronengases beobachtet wird und (3) daß die Lochlebensdauern an der d-Bandoberkante von Kupfer und Silber stark zunehmen. Diese experimentellen Befunde legen eine weitgehende Entkopplung der Zerfallsdynamik von d-Löchern und sp-Elektronen nahe. Diese Deutung kann qualitativ durch ab-initio Rechnungen zur Lochlebensdauer bestätigt werden.
Citation
@phdthesis{urn:nbn:de:hebis:34-2007112819777,
author={Gerlach, Alexander},
title={Analyse von Linienbreiten in Photoemissionsspektren zur Bestimmung von d-Lochlebensdauern in Kupfer und Silber},
school={Kassel, Universität, FB 18, Naturwissenschaften, Institut für Physik},
month={11},
year={2007}
}
0500 Oax
0501 Text $btxt$2rdacontent
0502 Computermedien $bc$2rdacarrier
1100 2007$n2007
1500 1/ger
2050 ##0##urn:nbn:de:hebis:34-2007112819777
3000 Gerlach, Alexander
4000 Analyse von Linienbreiten in Photoemissionsspektren zur Bestimmung von d-Lochlebensdauern in Kupfer und Silber / Gerlach, Alexander
4030
4060 Online-Ressource
4085 ##0##=u http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:hebis:34-2007112819777=x R
4204 \$dDissertation
4170
5550 {{Kupfer}}
5550 {{d-Elektron}}
5550 {{Defektelektron}}
5550 {{Lebensdauer}}
5550 {{Photoemissionsspektrum}}
5550 {{Linienbreite}}
5550 {{Silber}}
5550 {{Lebensdauerspektroskopie}}
7136 ##0##urn:nbn:de:hebis:34-2007112819777
<resource xsi:schemaLocation="http://datacite.org/schema/kernel-2.2 http://schema.datacite.org/meta/kernel-2.2/metadata.xsd"> 2007-11-28T10:42:32Z 2007-11-28T10:42:32Z 2007-11-28T10:42:32Z urn:nbn:de:hebis:34-2007112819777 http://hdl.handle.net/123456789/2007112819777 3129814 bytes application/pdf ger Urheberrechtlich geschützt https://rightsstatements.org/page/InC/1.0/ Oberflächenphysik Photoelektronenspektroskopie Vielteilcheneffekte 530 Analyse von Linienbreiten in Photoemissionsspektren zur Bestimmung von d-Lochlebensdauern in Kupfer und Silber Dissertation Hochaufgelöste Photoelektronspektroskopie ermöglicht die Untersuchung der Zerfallsdynamik angeregter Lochzustände im Festkörper. Durch Messung der intrinsischen Linienbreiten in den Spektren von Kupfer- und Silbereinkristallen werden die Lebensdauern von tiefliegenden d-Lochzuständen in diesen Edelmetallen bestimmt und mit Vielteilchenrechnungen verglichen. Insbesondere kann gezeigt werden (1) daß sich die d-Lochlebensdauern in Kupfer und Silber trotz unterschiedlicher Lage der d-Bänder ähnlich verhalten (2) daß keine quadratische Abhängigkeit gemäß des einfachen Modell eines freien Elektronengases beobachtet wird und (3) daß die Lochlebensdauern an der d-Bandoberkante von Kupfer und Silber stark zunehmen. Diese experimentellen Befunde legen eine weitgehende Entkopplung der Zerfallsdynamik von d-Löchern und sp-Elektronen nahe. Diese Deutung kann qualitativ durch ab-initio Rechnungen zur Lochlebensdauer bestätigt werden. open access Gerlach, Alexander Kassel, Universität, FB 18, Naturwissenschaften, Institut für Physik Goldmann, Albrecht (Prof. Dr.) Träger, Frank (Prof. Dr.) Diese Version ist inhalts-, aber nicht seitenidentisch mit der gedruckten Version. 71.45.Gm 72.15Lh 78.47.+p 79.60.-i Kupfer d-Elektron Defektelektron Lebensdauer Photoemissionsspektrum Linienbreite Silber Lebensdauerspektroskopie 2001-07-10 </resource>
The following license files are associated with this item:
:Urheberrechtlich geschützt