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Analyse von Linienbreiten in Photoemissionsspektren zur Bestimmung von d-Lochlebensdauern in Kupfer und Silber

dc.date.accessioned2007-11-28T10:42:32Z
dc.date.available2007-11-28T10:42:32Z
dc.date.issued2007-11-28T10:42:32Z
dc.identifier.uriurn:nbn:de:hebis:34-2007112819777
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/123456789/2007112819777
dc.format.extent3129814 bytes
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.language.isoger
dc.rightsUrheberrechtlich geschützt
dc.rights.urihttps://rightsstatements.org/page/InC/1.0/
dc.subjectOberflächenphysikger
dc.subjectPhotoelektronenspektroskopieger
dc.subjectVielteilcheneffekteger
dc.subject.ddc530
dc.titleAnalyse von Linienbreiten in Photoemissionsspektren zur Bestimmung von d-Lochlebensdauern in Kupfer und Silberger
dc.typeDissertation
dcterms.abstractHochaufgelöste Photoelektronspektroskopie ermöglicht die Untersuchung der Zerfallsdynamik angeregter Lochzustände im Festkörper. Durch Messung der intrinsischen Linienbreiten in den Spektren von Kupfer- und Silbereinkristallen werden die Lebensdauern von tiefliegenden d-Lochzuständen in diesen Edelmetallen bestimmt und mit Vielteilchenrechnungen verglichen. Insbesondere kann gezeigt werden (1) daß sich die d-Lochlebensdauern in Kupfer und Silber trotz unterschiedlicher Lage der d-Bänder ähnlich verhalten (2) daß keine quadratische Abhängigkeit gemäß des einfachen Modell eines freien Elektronengases beobachtet wird und (3) daß die Lochlebensdauern an der d-Bandoberkante von Kupfer und Silber stark zunehmen. Diese experimentellen Befunde legen eine weitgehende Entkopplung der Zerfallsdynamik von d-Löchern und sp-Elektronen nahe. Diese Deutung kann qualitativ durch ab-initio Rechnungen zur Lochlebensdauer bestätigt werden.ger
dcterms.accessRightsopen access
dcterms.creatorGerlach, Alexander
dc.contributor.corporatenameKassel, Universität, FB 18, Naturwissenschaften, Institut für Physik
dc.contributor.refereeGoldmann, Albrecht (Prof. Dr.)
dc.contributor.refereeTräger, Frank (Prof. Dr.)
dc.description.everythingDiese Version ist inhalts-, aber nicht seitenidentisch mit der gedruckten Version.ger
dc.subject.pacs71.45.Gmeng
dc.subject.pacs72.15Lheng
dc.subject.pacs78.47.+peng
dc.subject.pacs79.60.-ieng
dc.subject.swdKupferger
dc.subject.swdd-Elektronger
dc.subject.swdDefektelektronger
dc.subject.swdLebensdauerger
dc.subject.swdPhotoemissionsspektrumger
dc.subject.swdLinienbreiteger
dc.subject.swdSilberger
dc.subject.swdLebensdauerspektroskopieger
dc.date.examination2001-07-10


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DissertationAlexanderGerlach.pdf
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