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Thermal exchange bias field drifts after 10 keV He ion bombardment
(Storage temperature dependence and initial number of coupling sites)
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In: Journal of applied physics. - Melville, NY : American Inst. of Physics, 2011, Vol. 110, 113911, 1-4Sammlung(en)
Publikationen (Experimentalphysik IV - Funktionale dünne Schichten & Physik mit Synchrotronstrahlung)Zitieren
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