dc.date.accessioned | 2007-11-28T10:42:32Z | |
dc.date.available | 2007-11-28T10:42:32Z | |
dc.date.issued | 2007-11-28T10:42:32Z | |
dc.identifier.uri | urn:nbn:de:hebis:34-2007112819777 | |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/123456789/2007112819777 | |
dc.format.extent | 3129814 bytes | |
dc.format.mimetype | application/pdf | |
dc.language.iso | ger | |
dc.rights | Urheberrechtlich geschützt | |
dc.rights.uri | https://rightsstatements.org/page/InC/1.0/ | |
dc.subject | Oberflächenphysik | ger |
dc.subject | Photoelektronenspektroskopie | ger |
dc.subject | Vielteilcheneffekte | ger |
dc.subject.ddc | 530 | |
dc.title | Analyse von Linienbreiten in Photoemissionsspektren zur Bestimmung von d-Lochlebensdauern in Kupfer und Silber | ger |
dc.type | Dissertation | |
dcterms.abstract | Hochaufgelöste Photoelektronspektroskopie ermöglicht die Untersuchung der Zerfallsdynamik angeregter Lochzustände im Festkörper. Durch Messung der intrinsischen Linienbreiten in den Spektren von Kupfer- und Silbereinkristallen werden die Lebensdauern von tiefliegenden d-Lochzuständen in diesen Edelmetallen bestimmt und mit Vielteilchenrechnungen verglichen. Insbesondere kann gezeigt werden (1) daß sich die d-Lochlebensdauern in Kupfer und Silber trotz unterschiedlicher Lage der d-Bänder ähnlich verhalten (2) daß keine quadratische Abhängigkeit gemäß des einfachen Modell eines freien Elektronengases beobachtet wird und (3) daß die Lochlebensdauern an der d-Bandoberkante von Kupfer und Silber stark zunehmen. Diese experimentellen Befunde legen eine weitgehende Entkopplung der Zerfallsdynamik von d-Löchern und sp-Elektronen nahe. Diese Deutung kann qualitativ durch ab-initio Rechnungen zur Lochlebensdauer bestätigt werden. | ger |
dcterms.accessRights | open access | |
dcterms.creator | Gerlach, Alexander | |
dc.contributor.corporatename | Kassel, Universität, FB 18, Naturwissenschaften, Institut für Physik | |
dc.contributor.referee | Goldmann, Albrecht (Prof. Dr.) | |
dc.contributor.referee | Träger, Frank (Prof. Dr.) | |
dc.description.everything | Diese Version ist inhalts-, aber nicht seitenidentisch mit der gedruckten Version. | ger |
dc.subject.pacs | 71.45.Gm | eng |
dc.subject.pacs | 72.15Lh | eng |
dc.subject.pacs | 78.47.+p | eng |
dc.subject.pacs | 79.60.-i | eng |
dc.subject.swd | Kupfer | ger |
dc.subject.swd | d-Elektron | ger |
dc.subject.swd | Defektelektron | ger |
dc.subject.swd | Lebensdauer | ger |
dc.subject.swd | Photoemissionsspektrum | ger |
dc.subject.swd | Linienbreite | ger |
dc.subject.swd | Silber | ger |
dc.subject.swd | Lebensdauerspektroskopie | ger |
dc.date.examination | 2001-07-10 | |